單道掃描光譜儀：從光源發(fā)出的光穿過入射狹縫后，反射到一個可以轉(zhuǎn)動的光柵上，該光柵將光色散后，經(jīng)反射使某一條特定波長的光通過出射狹縫投射到光電倍增管上進行檢測。光柵轉(zhuǎn)動至某一固定角度時只允許一條特定波長的光線通過該出射狹縫，隨光柵角度的變化，譜線從該狹縫中依次通過并進入檢測器檢測，完成一次全譜掃描，和多道光譜儀相比，單道掃描光譜儀波長選擇更為靈活方便，分析樣品的范圍更廣，適用于較寬的波長范圍。但由于完成一次掃描需要一定時間，因此分析速度受到一定限制。

全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀：光源發(fā)出的光通過兩個曲面反光鏡聚焦于入射狹縫，入射光經(jīng)拋物面準直鏡反射成平行光，照射到中階梯光柵上使光在X向上色散，再經(jīng)另一個光柵在Y向上進行二次色散，使光譜分析線全部色散在一個平面上，并經(jīng)反射鏡反射進入面陣型CCD檢測器檢測。由于該CCD是一個紫外型檢測器，對可見區(qū)的光譜不敏感，因此，在光柵的中央開一個孔洞，部分光線穿過孔洞后經(jīng)棱鏡進行Y向二次色散,然后經(jīng)反射鏡反射進入另一個CCD檢測器對可見區(qū)的光譜(400～780nm)進行檢測。這種全譜直讀光譜儀不僅克服了多道直讀光譜儀譜線少和單道掃描光譜儀速度慢的缺點，而且所有的元件都牢固地安置在機座上成為一個整體，沒有任何活動的光學器件，因此具有較好的波長穩(wěn)定性。

近年來，由于全譜直讀型儀器能更大限度地獲取光譜信息，便于進行光譜干擾和譜線強度空間分布的同時測量，有利于多譜圖校正技術(shù)的采用，有效消除光譜干擾，提高選擇性和靈敏度，越來越多的科研和工業(yè)企業(yè)選擇全譜直讀的儀器，來獲取最快，最精確的測量分析結(jié)果。

德國派克最新款的ARCOS光譜儀，以獨一無二的全新MultiView等離子體接口，第一次在同一臺儀器上實現(xiàn)了真正的軸向和徑向直接觀測，擁有真正全譜記錄同時測量的性能，將電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）的效率和性能推向了新的高度。