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首頁光譜知識(shí)文庫 日本理學(xué)波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析

日本理學(xué)波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析

2020年04月13日10:40 儀德

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜,波譜不限于材料的形狀,應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測(cè)定分析。本文章簡(jiǎn)單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析,為礦石領(lǐng)域?qū)r石測(cè)定分析提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。


使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測(cè)量范圍放大后進(jìn)行了分析。


紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示。


可以更精密地指定測(cè)量位置。


面掃3描分析結(jié)果

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