X熒光光譜儀由于具有分析快速、制樣簡(jiǎn)單，準(zhǔn)確度高、對(duì)環(huán)境無(wú)污染等優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，成為理化檢驗(yàn)不可或缺的設(shè)備。X熒光光譜分析的發(fā)展歷史較長(zhǎng)，是隨科技的全面進(jìn)步，進(jìn)行了無(wú)數(shù)次的革命性的改進(jìn)，其硬件及軟件由初的單純定性發(fā)展直至今天的精確的定量分析。

正是由于這些時(shí)代的烙印，才使得人們習(xí)慣了引用學(xué)習(xí)，照搬一些現(xiàn)成的成果，才忽略了儀器發(fā)展的新技術(shù)及新水平，使得有些人在X射線熒光光譜分析工作中，存在一些認(rèn)識(shí)上的誤區(qū)，對(duì)我們的儀器使用及儀器效能的發(fā)揮起到了負(fù)面的作用，有些還對(duì)儀器的使用壽命產(chǎn)生了影響。

由于X射線熒光的能量比較大，樣品被激發(fā)后，產(chǎn)生的特征X射線極易被吸收，而從樣品中發(fā)射出來(lái)的熒光很少，也即是熒光產(chǎn)額很少。因此采用X熒光光譜儀測(cè)量微量元素，不是特長(zhǎng)，因此不要把精力過(guò)分地放在低含量元素分析上。

同理，對(duì)于輕元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的檢出限；但對(duì)于高含量的輕元素分析，卻有很高的精度。

本人曾分析生鐵中3%左右的碳，標(biāo)準(zhǔn)偏差不超過(guò)0.1%；分析鉬鐵中60%左右的鉬，誤差不超過(guò)0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，誤差不超過(guò)0.3%等。而對(duì)微量元素，鎂的檢量限，低于0.01%，峰幾乎沒(méi)有了；鈉，低于0.05%，峰也沒(méi)了，連強(qiáng)度都沒(méi)了還怎么測(cè)？由此說(shuō)明X熒光光譜儀適合于高含量分析，而不適合微量元素的分析。

經(jīng)常有些調(diào)研、參觀的應(yīng)用人員問(wèn)我：你用X熒光光譜儀分析什么樣品？

我對(duì)他說(shuō)，你應(yīng)該問(wèn)我什么不能用熒光分析。什么意思？就是幾乎任何樣品都可以用熒光分析，但不是全部元素。

例如:鐵礦石,你沒(méi)必要分析其中的氟、硼等，測(cè)也測(cè)不準(zhǔn)，又如錳鐵合金，壓片測(cè)錳元素測(cè)不準(zhǔn)，你可以測(cè)其它元素如硅、錳、磷等還是很準(zhǔn)的。又如螢石，你可能氟測(cè)不準(zhǔn)，但你可以測(cè)量元素其它元素。

當(dāng)然以上都要進(jìn)行強(qiáng)度校正，如果系數(shù)過(guò)大，也可以采用參考濃度校正。