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日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析
日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領域對巖石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。使用儀器分析室內(nèi)置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內(nèi)擴大了的范圍由右圖表示?？梢愿艿刂付y量位置。面掃3描分析結果微區(qū)測繪測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

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