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: 日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀四大優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個(gè)精密的測(cè)角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。; http://m.xzc100.cn/Article/rblxbcssxy_1.html

: 掃描電子顯微鏡是什么？

掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡(jiǎn)單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。; http://m.xzc100.cn/Article/smdzxwjssm_1.html

: 材料表征及性能測(cè)試過(guò)程中所用儀器設(shè)備大匯總

材料分析測(cè)試技術(shù)和儀器設(shè)備眾多，并且各有優(yōu)點(diǎn)，隨其應(yīng)用范圍愈廣，現(xiàn)有的測(cè)試表征手段越來(lái)越不能滿足要求，發(fā)展新的表征方法、測(cè)試技術(shù)勢(shì)在必行。就目前的現(xiàn)狀，小編匯總了材料表征和性能測(cè)試過(guò)程中用到的所有儀器設(shè)備供大家參考。材料表征材料的成分分析 1、表征方式：X射線光電子能譜儀效果：得到材料的元素組成及價(jià)態(tài)或化合態(tài)。需要注意的問題：樣品不能大于2mm厚，僅能測(cè)試表面元素，可以利用濺射一; http://m.xzc100.cn/Article/clbzjxncsg_1.html

: 便攜式X射線熒光分析儀無(wú)論何時(shí)何地滿足地質(zhì)及礦物樣品的需求

便攜式X射線熒光分析儀無(wú)論何時(shí)何地滿足地質(zhì)及礦物樣品的需求?，F(xiàn)場(chǎng)檢定礦物及地質(zhì)樣品中的元素組成是一件充滿挑戰(zhàn)的事，野外條件瞬息萬(wàn)變，但無(wú)論是已勘探開發(fā)的區(qū)域，還是待勘探開發(fā)的處女地，其元素含量的要求是一成不變的。在大多數(shù)情況下需要在采樣現(xiàn)場(chǎng)給出分析結(jié)果，將樣品送回實(shí)驗(yàn)室意味著將耗費(fèi)大量的時(shí)間而導(dǎo)致項(xiàng)目延遲。事實(shí)上，在實(shí)驗(yàn)室對(duì)所有樣品進(jìn)行分析是不可能的，存在著不可操作的問題。實(shí)時(shí)現(xiàn)場(chǎng)分析是確定地質(zhì)調(diào)查區(qū)域，以及對(duì)勘探開發(fā)方向做出調(diào)整的基本手段。實(shí)時(shí)現(xiàn)場(chǎng)分析數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性是不可忽視的，在各個(gè)含量段，從痕量元素到百分量級(jí)；; http://m.xzc100.cn/Article/bxsxsxygfx_1.html

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