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日立鎢燈絲掃描電鏡FlexSEM 1000

FlexSEM1000是日立高新公司新推出的一款機型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭，具有卓越的低真空成像能量，并且采用新的SEM MAP高精度導(dǎo)航系統(tǒng)及新全的自動化功能，使性能更加優(yōu)越，使用更加簡便。

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掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。

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使用“二合一法”解決方案進行清潔度分析

在汽車和運輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中，產(chǎn)品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。徠卡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學(xué)顯微術(shù) (目視分析) 和激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) (化學(xué)分析) 相結(jié)合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜(EDS) 等其他方法進行比較，在高效清潔度分析中占據(jù)著優(yōu)勢。查找和消除污染源更輕松對于技術(shù)清潔度，最終目標(biāo)是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時間和精力識別污染源，

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SEM掃描電鏡知識點掃盲

1. 光學(xué)顯微鏡以可見光為介質(zhì)，電子顯微鏡以電子束為介質(zhì)，由于電子束波長遠較可見光小，故電子顯微鏡分辨率遠比光學(xué)顯微鏡高。光學(xué)顯微鏡放大倍率高只有約1500倍，掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上。　　2. 根據(jù)de Broglie波動理論，電子的波長僅與加速電壓有關(guān)：　　λe=h / mv= h / (2qmV)1/2=12.2 / (V)1/2 (?)　　在 10 KV 的加速電壓之下，電子的波長僅為0.12?，遠低于可見光的4000 - 7000?，所以電子顯微鏡分辨率自然比光學(xué)顯微鏡優(yōu)越許多，但是掃描式電

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日立SU8000系列電鏡與冷凍聯(lián)用系統(tǒng)應(yīng)用

SEM: SU8020 FE-SEM, Cryo-SEM 冷凍系統(tǒng), PP3000T (Quorum) 利用Cryo-SEM冷凍系統(tǒng)可以快速得到芽殖酵母細(xì)胞的斷面。在SEM下可觀測細(xì)胞的內(nèi)部及表面構(gòu)造。PF, 芽殖酵母EF, 裂殖酵母SEM: SU8020 FESEM, Cryo-SEM冷凍系統(tǒng), PP3000T (Quorum)研究了冷凍芽殖酵母細(xì)胞的隨機斷面，左圖中可清晰地觀測到細(xì)胞壁，細(xì)胞膜及細(xì)胞器。右圖中，細(xì)胞核的三維結(jié)構(gòu)

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日立鎢燈絲掃描電鏡FlexSEM 1000

掃描電子顯微鏡是什么？

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