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日本理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀對環(huán)境分析-石油分析應(yīng)用事例
日本理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀對環(huán)境分析-石油分析應(yīng)用事例

理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀環(huán)境分析應(yīng)用事例-石油分析(質(zhì)量控制)

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環(huán)境分析應(yīng)用事例-排水分析
環(huán)境分析應(yīng)用事例-排水分析

環(huán)境分析應(yīng)用事例排水分析(代替標(biāo)準(zhǔn)的篩選分析)1.除了汞之外,理學(xué)大型WDXRF都滿足GB5080要求的規(guī)定值。2.一般下照式對液體樣品合適,但是對含有固體浮游物的樣品,上照式波長色散x射線熒光光譜儀很合適。3.理學(xué)儀器對半定量分析有很多種類校正功能,理學(xué)ZSX軟件的優(yōu)點(diǎn)。4.在這兒介紹了定性半定量分析,如果能準(zhǔn)備標(biāo)樣,建立工作曲線進(jìn)行定量分析更好。必須品:1.樣品處理工具配件(上照式液體容器等)2.SQX軟件3.氦氣置換機(jī)構(gòu)推薦:SQX散射線FP法

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大氣粉塵濾片分析事例(中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn))
大氣粉塵濾片分析事例(中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn))

大氣粉塵濾片分析事例(中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn))日本理學(xué)正是大氣顆粒物元素分析的“老字號”,90年代已經(jīng)跟中日友好環(huán)境保護(hù)中心合作建立大氣粉塵濾片的分析方法。使用XRF分析大氣粉塵非常的容易。濾片基本上原樣分析,使用上照式波長色散x射線熒光光譜儀時不用擔(dān)心粉塵落下,濾片一般對X射線沒有那么耐性,所以調(diào)整分析條件更好1、把功率下降一點(diǎn)2、使用濾光片(Be,Al,Ni)必備工具:樣品處理工具配件(鋁制或者鈦制中空樣品杯,樣品支持板等等)推薦:對III型追加Ge晶體補(bǔ)充:大氣粉塵定量分析

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環(huán)境分析應(yīng)用事例
環(huán)境分析應(yīng)用事例

石油分析(質(zhì)量控制)-汽油中鉛的定量分析事例-1、鉛是抗震劑,現(xiàn)在也為航空燃料使用,但是為了汽車燃料不可以。2、有時從煉油廠混入,有時故意混合(違反)。3、鐵/錳也是抗震劑。4、硫/氯是原油里含有的,都是發(fā)動機(jī)不好。5、硫也是全球規(guī)制的元素,因?yàn)閷Υ髿馕廴镜脑蛑弧7治鲈O(shè)備:波長色散x射線熒光光譜儀

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固體廢棄物分析方法(篩選分析)
固體廢棄物分析方法(篩選分析)

固體廢棄物分析(篩選分析)1、在污水殘?jiān)脑瓨臃治?,對過半數(shù)元素通過SQX分析的固定角分析滿足HJ781-2016的LLD規(guī)定。雖然HJ781-2016是ICP-OES的標(biāo)準(zhǔn),但是WDXRF也能作為篩選分析法使用。2、為了防止從樣品揮發(fā)成分的污染,使用樣品薄膜覆蓋殘?jiān)鼧悠贰?、如果可以的話,推薦灰化樣品。4、樣品設(shè)置時,上照式儀器很方便。推薦儀器:理學(xué)ZSX Primus III=/IV波長色散X射線熒光光譜儀必須品:樣品處理工具配件(MicroCarry,中空樣品杯,樣品薄膜,微量粉末容器),SQX軟件

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光譜秘籍:波長色散X射線熒光光譜儀測定潤滑油中22種金屬元素
光譜秘籍:波長色散X射線熒光光譜儀測定潤滑油中22種金屬元素

文章中使用波長色散X射線熒光光譜法測定潤滑油中添加劑和磨損金屬元素的含量,較好地克服磨損顆粒的尺寸對測定結(jié)果的影響,樣品不需要前處理,是一種快速、高效、準(zhǔn)確度高的方法。

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中檢集團(tuán)某公司便攜式土壤分析儀應(yīng)用成功案例
中檢集團(tuán)某公司便攜式土壤分析儀應(yīng)用成功案例

中檢集團(tuán)某公司便攜式土壤分析儀應(yīng)用成功案例!購買手持式X射線熒光光譜儀(便攜式土壤分析儀)主要在野外和現(xiàn)場分析土壤樣品,初步篩查土壤污染物成分和種類及污染程度。土壤和淤泥重金屬污染監(jiān)測,也可以分析礦石、尾礦和精礦等樣品。

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2020端午放假通知 — 儀德科學(xué)
2020端午放假通知 — 儀德科學(xué)

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅(jiān)持服務(wù)于國內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。  產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮

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X射線熒光光譜儀測定銅礦物類質(zhì)實(shí)例應(yīng)用
X射線熒光光譜儀測定銅礦物類質(zhì)實(shí)例應(yīng)用

銅礦物在自然界存在形式多樣,有原生帶次生富集帶和氧化帶等,共生礦物和伴生礦物眾多,對于此類礦物的鑒別需要借助化學(xué)分析方法或微區(qū)分析技術(shù)。

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運(yùn)用X射線熒光光譜儀如何測定石灰?guī)r白云巖中的氯和硫
運(yùn)用X射線熒光光譜儀如何測定石灰?guī)r白云巖中的氯和硫

石灰?guī)r和白云巖中硫和氯的含量不同會影響材料運(yùn)用效應(yīng)。測定石灰?guī)r和白云巖中硫的含量一般采用燃燒碘量法,測定氯的含量就采用氯化銀比濁法。運(yùn)用X射線熒光光譜儀可對巖石中元素含量進(jìn)行測定。

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波長色散X射線熒光光譜儀對涂層中元素的定點(diǎn)分析示例
波長色散X射線熒光光譜儀對涂層中元素的定點(diǎn)分析示例

在波長色散X射線熒光光譜儀在金屬元素的測定分析已經(jīng)是應(yīng)用非常的成熟具有典型的用戶及實(shí)驗(yàn)配套方案。其中,在涂層方面的檢測也有很好的應(yīng)用,如涂料紙上的涂料中有線狀異物,用CCD定點(diǎn)分析可以不破壞樣品得知其組成成分。CCD定點(diǎn)分析是利用儀器的內(nèi)置CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動裝置,指定樣品表面任意位置,進(jìn)行定性或定量分析,這是X射線熒光光譜儀ZSX系列新添加的功能。另外,在此介紹如何使用樣品臺驅(qū)動裝置對檢測出的組成成分進(jìn)行元素分布分析。操作部分一、分析儀器日本理學(xué)      波長色散型X射線熒光光譜

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波長X射線熒光光譜儀——溶結(jié)凝灰?guī)r半定量分析
波長X射線熒光光譜儀——溶結(jié)凝灰?guī)r半定量分析

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅(jiān)持服務(wù)于國內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。在日本理學(xué)波長色散X熒光光譜儀有專業(yè)的銷售經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)團(tuán)隊(duì),而且在各行業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用非常的廣泛,其中對礦石、巖石測定分析也非常的成熟。溶結(jié)凝灰?guī)r由熔巖凝固而成,分為玻璃狀的微區(qū)鏡面部分和火山灰等基質(zhì)部分。鏡面部分是顯示巖漿本質(zhì)的物質(zhì),通過對其組成的分析,可以獲得重要的信息。

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ZSX Primus波長X射線熒光光譜儀對片狀切削的鋼種的判別
ZSX Primus波長X射線熒光光譜儀對片狀切削的鋼種的判別

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀,在近年來,在X射線熒光分析的樣品置備方面,對微小及微量樣品的要求日趨嚴(yán)格。針對用傳統(tǒng)儀器不能解決的樣品制備及測試等問題,通過對儀器的高靈敏度化和新方法的開發(fā),不僅解決了以上問題,而且應(yīng)用范圍越來越廣泛。下面分享如何應(yīng)用ZSX Primus系列波長X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機(jī)拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎(chǔ),指定任意測試位置進(jìn)行定性分析的儀器,通過對一片片狀切削屑進(jìn)行定性分析及半定量值分析的結(jié)果,判別其鋼種。操作部分一、儀器波長色散X射線熒光光譜儀(ZSX Prim

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波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析
波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析

廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領(lǐng)域的金屬元素分析有著豐富的經(jīng)驗(yàn)及完整的配套方案,下面分享通過日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖,是由石英,斜長石,云母,角閃石等構(gòu)成的礦物質(zhì)。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動裝置組合,對花崗巖進(jìn)行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)對直接觀察樣品表面,指定任意位置進(jìn)行的元素分析。實(shí)驗(yàn)操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀(日本理學(xué))二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割,打磨

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日本理學(xué)上照式X射線熒光光譜儀對風(fēng)化堆積巖的分析方法
日本理學(xué)上照式X射線熒光光譜儀對風(fēng)化堆積巖的分析方法

礦石開采及礦石判定需要的精準(zhǔn)的進(jìn)行分析測定廣州儀德代理的日本理學(xué)X射線熒光光譜儀可以輕松解決,下面通過實(shí)際案例分享測定方法,為礦產(chǎn)行業(yè)提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。為對局部變色堆積巖的變色原因進(jìn)行無損檢查,使用X射線熒光分析儀作CCD定點(diǎn)分析及元素分布分析。CCD定點(diǎn)分析和元素分布分析是根據(jù)儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動裝置的組合,指定任意位置進(jìn)行測試的方法。就此分析而言,這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進(jìn)行元素分布分析。即使是小直徑分析,也可得到很高的精度,在短時間內(nèi)得到滿意的結(jié)果。實(shí)驗(yàn)操作

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日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析
日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜,波譜不限于材料的形狀,應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析,為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進(jìn)行了分析。紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示??梢愿艿刂付y量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測繪測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式,可以采用有效的圖示。各測量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

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精密儀器之X射線熒光光譜儀
精密儀器之X射線熒光光譜儀

簡介:X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學(xué),法醫(yī)學(xué),考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫和壁畫。使用型態(tài):XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,

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日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法
日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀,本次文章主要分享理學(xué)中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護(hù)信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護(hù)信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機(jī),過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運(yùn)行,X熒光儀主機(jī)正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時,

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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)介紹
ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀?,在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評與支持,日本理學(xué)波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛:電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法
理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學(xué)ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀,該儀器為上照式端窗型單道掃描儀,配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體,性能優(yōu)越,高精密度以及低檢出限,可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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