熱門關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜儀光譜儀價格手持式礦石分析儀鋁合金標(biāo)樣
儀器:135-0001-7008
標(biāo)樣:180-7108-0982
熱門關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜儀光譜儀價格手持式礦石分析儀鋁合金標(biāo)樣
火花直讀光譜儀(Optical Emission Spectrometer以下簡稱OES)在金屬材質(zhì)化學(xué)成分檢測分析中,有著快速準(zhǔn)確,操作簡便等諸多有點,因而被廣泛應(yīng)用于鑄造配料,來料檢測等領(lǐng)域。然而每種檢測儀器都有其應(yīng)有的范圍和局限性,OES對材質(zhì)要求必須滿足,塊狀(能覆蓋住激發(fā)孔),成分分布均勻等。比如鐵基材質(zhì)中的鑄鐵(灰鐵,球鐵,蠕鐵等統(tǒng)稱鑄鐵)屬于OES較難分析的一類材質(zhì)。已經(jīng)鑄造成型,冷卻后的樣品,不管是球鐵(C呈球墨狀),灰鐵(C呈針狀),蠕鐵(C介于球墨狀和針狀之間),其組織結(jié)構(gòu)都是相對非均勻的,OES都很難測準(zhǔn),尤其是C、S、Si等元素。因此必須將鐵水注入特制的取樣器,在其冷卻前快速浸入水中完成白口化,才能在OES分析出相對準(zhǔn)確的結(jié)果,且白口化效果直接影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。以下總結(jié)了一些影響OES分析鑄鐵材質(zhì)準(zhǔn)確性的原因。
(1)光譜儀分析采用的試樣應(yīng)為白口試樣而不能為灰口試樣
生鐵取樣后自然冷卻的金相分析為,大量片狀石墨、共晶萊氏體、珠光體共存的結(jié)構(gòu),片狀石墨的存在使得火花光譜激發(fā)時呈現(xiàn)擴散放電現(xiàn)象,即常說的激發(fā)點發(fā)白。擴散放電是一種不正常的放電狀態(tài),分析元素不能很好的蒸發(fā)而進入分析通道,因此光譜不能分析沒經(jīng)白口化后的生鐵。
白口化后的生鐵其金相組織為,共晶萊氏體、珠光體、白色板條狀初生滲碳體,無片狀石墨。白口化后的樣品結(jié)構(gòu)均勻適合光譜分析,光譜激發(fā)時呈凝聚放電,即常說的激發(fā)點發(fā)黑
我們做過這樣的試驗,兩爐鐵水準(zhǔn)備進行化學(xué)成份分析時,在制作白口試樣同時也制作自然冷卻試樣(非白口化) ,將兩者結(jié)果進行比較,情況如表1:
序號 | 試樣 | C | Si | Mn | P | S | B | Cr |
1 | 白口 | 3.22 | 2.01 | 0.726 | 0.095 | 0.063 | 0.0514 | 0.354 |
非白口 | 3.78 | 1.78 | 0.617 | 0.078 | 0.049 | 0.0441 | 0.324 | |
2 | 白口 | 3.31 | 2.12 | 0.753 | 0.154 | 0.102 | 0.0362 | 0.212 |
非白口 | 3.86 | 1.90 | 0.666 | 0.137 | 0.090 | 0.0301 | 0.187 |
表1:白口化與非白口化對比數(shù)據(jù)
通過對比,不難發(fā)現(xiàn)兩者偏差很大。白口化后的試樣分析結(jié)果較接近濕法化學(xué)測試的結(jié)果。這就要求在制作試樣時,試樣厚度2~3mm即可,不應(yīng)過厚,制作試樣模型的材料應(yīng)為散熱快的金屬如銅、鐵等??傊嚇影卓诨潭仍胶霉庾V儀分析精確度越高。
(2)試樣溫度對分析結(jié)果的影響
在實際操作發(fā)現(xiàn)試樣在燙和涼兩種不同狀態(tài)下進行光譜儀分析時總存在差距。為了找出偏差值做了如下實驗 ,將兩個剛磨好還很燙的試樣直接分析,分析結(jié)束后在試樣激發(fā)部位背面做標(biāo)記,再將試樣磨光后冷卻,在相同部位再進行光譜儀分析,將兩者結(jié)果進行比較,情況如表2:
序號 | 試樣 | C | Si | Mn | P | S | B | Cr |
1 | 燙(≥80°C) | 3.22 | 2.01 | 0.726 | 0.095 | 0.063 | 0.0514 | 0.354 |
涼(≤20°C) | 3.78 | 1.78 | 0.617 | 0.078 | 0.049 | 0.0441 | 0.324 | |
2 | 燙(≥80°C) | 3.31 | 2.12 | 0.753 | 0.154 | 0.102 | 0.0362 | 0.212 |
涼(≤20°C) | 3.86 | 1.90 | 0.666 | 0.137 | 0.090 | 0.0301 | 0.187 |
表2:試樣溫度對比數(shù)據(jù)
通過對比,可以發(fā)現(xiàn)燙試樣光譜儀分析結(jié)果普遍高于涼試樣光譜儀分析結(jié)果,特別是硅、錳。為避免這種誤差的出現(xiàn),可以用這樣幾個方法:
A、 將試樣磨好后放置一段時間讓其自然冷卻;
B、 試樣磨好后用水冷卻再盡可能短時間磨光;
C、 試樣磨好后擺放在吸熱物體上以加快其散熱如銅棒等。
(3)試樣面積對分析結(jié)果的影響
一個重疊區(qū)域(小1mm),而且試樣表面應(yīng)是均勻的、平整、紋理一致。試樣如不平整或者試樣面積小于激發(fā)孔將不能完全蓋住激發(fā)孔,使燃燒室不處于密封,試樣被激發(fā)時改變電流強度,從而影響預(yù)燃和曝光,使試樣燃燒不完全,導(dǎo)致光譜儀分析結(jié)果偏差很大。
(4)試樣表面要干凈不要被污染如用手觸摸
污染的試樣被激發(fā)時表面不能被沖洗干凈,并且沖洗下來的物體污染燃燒室,影響預(yù)燃和曝光,嚴(yán)重時光譜儀無法分析,輕微時會出現(xiàn)分析結(jié)果偏差大。
(5)試樣表面不能有砂眼、氣孔、裂紋等缺陷
鑄鐵白口化試樣是急冷薄片樣,容易出現(xiàn)氣孔、沙眼、裂痕等,缺陷會導(dǎo)致試樣被激發(fā)時電流強度改變,使試樣燃燒不完全,激發(fā)不良,光譜儀分析結(jié)果偏差很大。
(6)試樣中硫元素含量不能過高
在實踐中發(fā)現(xiàn)當(dāng)試樣中硫元素大于2%,光譜儀便無法正常分析。因為硫在燃燒過程中形成硫化鐵、硫化錳等化合物,影響試樣進一步激發(fā),從而導(dǎo)致激發(fā)不良。
?。?/span>7)試樣火花激發(fā)表面不良。
好的火花激發(fā)表面應(yīng)為激發(fā)處理產(chǎn)生的粗糙、有著金屬光澤的區(qū)域盡可能的大(直徑大約4~6mm),這個區(qū)域出現(xiàn)在火花激發(fā)表面的中心,周圍有黑色的圓環(huán),圓環(huán)區(qū)域的火花不很強烈,奶白色,應(yīng)盡可能的小。如火花激發(fā)表面和上述不一樣則為不良,此時光譜儀分析偏差很大值不可靠
光譜儀工作原理是試樣被電流擊發(fā)之后,試樣中的元素發(fā)射它的特征波長,并經(jīng)聚光,色散,每一元素譜線被分解出來,通過光電倍增管將這些元素各自光信號為電流信號,再根據(jù)電流強度確定化學(xué)元素含量的高低。上述環(huán)節(jié)有一個出現(xiàn)問題都會對光譜儀的分析產(chǎn)生影響。
(1)光譜儀所用的氬氣必須為高純氬(Ar≥99.999%)。
分析試樣時必須用到惰性氣體氬氣,因為火花激發(fā)過程只能在保護氣體環(huán)境下進行。同時,氬氣也為紫外線范圍內(nèi)的光提供了透明的媒介傳導(dǎo)。因為這種氣體也為產(chǎn)生等離子區(qū)提供等離子,所以就需要這種氣體具有高純度,以保證分析結(jié)果的正確性。氣體如果不純,會造成分析結(jié)果漂移偏差很大,重復(fù)精度差。一般會出現(xiàn)兩種問題或它們的混合:
A、被要定量分析的分析物質(zhì)所污染這種情況下,分析試樣時會得到很高的分析結(jié)果(如含有氮、氧或碳)。這種錯誤是很明顯的,一有這種情況,要立即更換氬氣,然后必須進行標(biāo)準(zhǔn)化校正。
B、由那些能阻止試樣激發(fā)的物質(zhì)而造成的不純這種情況下,由于試樣激發(fā)不良,分析試樣時會得到很低的分析結(jié)果。我們做過試驗分別用純氬(Ar 99.99%)和高純氬(Ar 99.999%)擊發(fā)同一試樣得到結(jié)果進行對比,情況如表3:
序號 | 試樣 | C | Si | Mn | P | S | B | Cr |
1 | 純氬 | 4.35 | 1.21 | 0.515 | 0.102 | 0.123 | 0.023 | 0.139 |
高純氬 | 3.14 | 2.06 | 0.759 | 0.178 | 0.079 | 0.037 | 0.211 | |
2 | 純氬 | 3.59 | 1.69 | 0.669 | 0.139 | 0.089 | 0.039 | 0.178 |
高純氬 | 3.17 | 2.24 | 0.764 | 0.167 | 0.048 | 0.044 | 0.234 | |
3 | 純氬 | 3.33 | 1.83 | 0.687 | 0.169 | 0.090 | 0.033 | 0.191 |
高純氬 | 3.16 | 1.96 | 0.704 | 0.182 | 0.079 | 0.037 | 0.211 |
表3:氬氣純度對比數(shù)據(jù)
氬氣不純引起的分析結(jié)果偏差大,重復(fù)精度差,比較常見。我們可以通過以下幾個方面,判別是否由于氬氣的原因引起的分析誤差:
A、聽 當(dāng)氬氣中含有那些能削弱或完全阻礙試樣激發(fā)的物質(zhì)時,試樣激發(fā)時會發(fā)出噼啪的聲音。
B、看 由于激發(fā)不良,試樣火花激發(fā)表面會出現(xiàn)劣質(zhì)的激發(fā)點。
C、比 氬氣不純時,內(nèi)部基體元素光強值變低,分析結(jié)果高的離譜或低的離譜。
氬氣不純時,我們可以通過更換高純氬、配備氬氣凈化機解決。
?。?/span>2)任何光譜儀分析的化學(xué)元素含量都有上下限。超出光譜儀分析范圍,分析結(jié)果會出現(xiàn)很大偏差。為了保證光譜儀分析的精確度,我們可以將上限縮小10%,下限縮小20%。
(3)試樣架上一定要擺放試樣,蓋住激發(fā)孔。試樣架上沒有試樣,燃燒室不密封,室內(nèi)易有空氣和水蒸氣,激發(fā)試樣的第一點數(shù)據(jù)和后面激發(fā)的數(shù)據(jù)會有1%~2%差異。
?。?/span>4)入射窗口的透鏡必須保持清潔,不得有污染。
試樣被激發(fā)后的光譜線必須經(jīng)過入射窗口才能射到光電倍增管上,光譜儀經(jīng)過一段時間的工作后,入射窗口的透鏡就會被灰塵和燃燒后殘留物污染,光譜儀的敏感性降低,分析偏差加大。一般來說,如果內(nèi)標(biāo)基體的光強值下降了15%~30%,就應(yīng)及時清洗入射窗口。
?。?/span>5)光譜儀應(yīng)安裝在溫度為10℃~38℃環(huán)境內(nèi),但是必須恒溫,溫差不能大。光路調(diào)整時對溫度變化極為敏感,溫差較大時(3℃/h),會使性能降低,光譜儀分析結(jié)果非常不穩(wěn),值忽高、忽低偏差很大。所以光譜儀擺放的房間必須安裝空調(diào)。
?。?/span>6)光電倍增管損壞。通常光電倍增管不易會壞。而且一旦壞了,它所對應(yīng)的元素分析將失真,比較容易發(fā)現(xiàn),我們在實際工作中發(fā)生過這樣一例,化學(xué)元素Mo的光電倍增管壞了,壞了以后不論試樣中Mo含量高低、有無,光譜儀分析結(jié)果總在0.24%左右,由于操作員責(zé)任心強,及時發(fā)現(xiàn)了。光電倍增管損壞可以通過暗電流測試、分析高低標(biāo)樣、做標(biāo)準(zhǔn)化等途徑發(fā)現(xiàn)。一旦壞了必須立即更換。
?。?/span>7)定期清理火花激發(fā)臺和電極。光譜儀工作一段時間后,火花激發(fā)臺的內(nèi)表面就會有殘留物,電極表面會有沉淀,影響放電,造成試樣激發(fā)不良。所以要定期清理,要注意清理過程中不能使用溶劑。
(8)定期進行標(biāo)準(zhǔn)化操作。標(biāo)準(zhǔn)化可保證分析結(jié)果始終如一的準(zhǔn)確性。它可以將飄移的分析曲線調(diào)整歸位。標(biāo)準(zhǔn)化一般為一個月一次,也可以根據(jù)光譜儀分析結(jié)果的穩(wěn)定情況進行。但每次設(shè)備內(nèi)部狀況和環(huán)境狀況發(fā)生了對整個設(shè)備狀況有影響的變化后,就必須要進行標(biāo)準(zhǔn)化如:室內(nèi)溫度發(fā)生變化;清理或修理火花激發(fā)臺;清理光學(xué)系統(tǒng)的入射窗口;換了新的氬氣瓶;排除試樣原因出現(xiàn)大的偏差。
?。?/span>1)試樣的結(jié)果進行標(biāo)樣校正。
我們在實際工作中,經(jīng)常對試樣的結(jié)果用標(biāo)樣進行校正,以減小偏差,保證分析結(jié)果的精確度。我們在校正時要遵循的原則是:標(biāo)樣的元素含量和試樣的元素含量要接近。也就是試樣含量高標(biāo)樣也要高含量,反之亦然。否則校正的結(jié)果仍有大偏差。如試樣中碳含量為3.20%,選擇的標(biāo)樣中碳含量好也是3.20%,正負不宜超過1%。
?。?/span>2)化驗員要對試樣的化學(xué)成份大概了解。
化驗員在試樣分析前對元素含量要了解,做到心中有數(shù),這樣才能保證分析結(jié)果不會出現(xiàn)大的偏差。如在上面寫到的光電倍增管壞了的例子,就是因為化驗員分析前對試樣的含量有了了解,才能及時發(fā)現(xiàn)問題,找出原因,采取措施。
當(dāng)一個試樣分析結(jié)束時,可以根據(jù)以下幾方面判斷是否出現(xiàn)了偏差:
A、 分析結(jié)果是否與鐵水配料時計算的化學(xué)元素含量相符
B、 分析結(jié)果是否與鐵水化學(xué)成份調(diào)整有相應(yīng)的變動
C、 試樣的火花激發(fā)表面是好還是劣
D、 試樣不同部位分析結(jié)果是否一致。如果出現(xiàn)了偏差。我們首先觀察試樣激發(fā)部位有無氣孔、裂紋、污染等問題,將試樣原因排除;再考慮氬氣有無污染、光學(xué)系統(tǒng)有無問題等,再采取相應(yīng)的措施。