儀器:135-0001-7008
標樣:180-7108-0982
波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點是不破壞樣品,分析速度快,適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學元素,分析精度高,樣品制備簡單。
X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源,分光系統(tǒng),探測器系統(tǒng),真空系統(tǒng)和氣流系統(tǒng)等部分組成。根據(jù)分析晶體的聚焦幾何條件不同,分為非聚焦反射平晶式,半聚焦反射彎晶式,全聚焦反射彎晶式,半聚焦透射彎晶式等。其原理是:試樣受X射線照射后,元素的原子內(nèi)殼層電子被激發(fā),并產(chǎn)生殼層電子躍遷而發(fā)射出該元素的特征X射線,通過探測器測量元素特征X射線的波長(能量)的強度與濃度的比例關(guān)系,便可進行定量分析。
優(yōu)點:不破壞樣品,分析速度快,適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學元素,分析精度高,樣品制備簡單。