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使用直讀光譜儀分析金屬錫

文章出處:光譜分析論文責(zé)任編輯:小黃查看手機(jī)網(wǎng)址
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人氣:-發(fā)表時間:2023-03-03 17:09【

隨著我國電子信息工業(yè)和鍍錫板材工業(yè)的迅速發(fā)展,我國錫的消費(fèi)量出現(xiàn)明顯的大幅度增長。錫的雜質(zhì)含量的高低不僅直接影響電鍍、焊接的性能和合金的質(zhì)量,同時也是確定其品號的直接依據(jù),因此準(zhǔn)確測定錫錠中雜質(zhì)元素是十分重要的。本文儀德將介紹使用直讀光譜儀直接測定錫錠中雜質(zhì)元素含量的實(shí)驗(yàn)過程。 


使用直讀光譜儀分析錫錠


一、實(shí)驗(yàn)部分

 

1. 儀器和試劑:

SPECTROLAB S 光電直讀光譜儀

液態(tài)氬氣(純度>99.999%

錫光譜標(biāo)樣

 

2. 技術(shù)條件:

氣壓力為0.35Mpa

 

二、分析條件選擇

 

1. 分析條件的優(yōu)化:

氬氣沖洗( Flush)時間由樣品激發(fā)室容積的大小、氬氣流量及純度、待測樣品表面對氧和水分的平均吸收量等因素來決定。通過試驗(yàn)確定氬氣的沖洗時間為5s。

 

2. 分析樣品及其處理:

分析的樣品,要求表面平整,無氧化物,由于氧和水等對樣品的激發(fā)放電有嚴(yán)重的影響。而錫錠表面極易氧化,本工作利用車床對樣品表面進(jìn)行切割拋光和平整,并立即進(jìn)行測量。如果樣品擱置太久或表面形成氧化物,證明對所測元素的分析有一定的影響,準(zhǔn)確度和精密度下降。

 

3. 各元素分析條件的選擇和優(yōu)化:

所測雜質(zhì)元素的光譜線,應(yīng)選擇與基體元素譜線干擾和共存元素的干擾小且強(qiáng)度高的譜線,即測定背景值( BEC)低。

 

三、準(zhǔn)確度試驗(yàn)

 

對不同含量的標(biāo)樣測定3次取平均值,進(jìn)行準(zhǔn)確度試驗(yàn),測定結(jié)果見下表。從表格中可見,各標(biāo)樣的測定值與標(biāo)準(zhǔn)值吻合較好,滿足國家標(biāo)準(zhǔn)允差要求。

準(zhǔn)確度試驗(yàn)

 

四、結(jié)論

 

通過樣品處理、分析條件的優(yōu)化,采用直讀光譜儀測定錫錠中雜質(zhì)元素含量,分析數(shù)據(jù)可靠,具有良好的精確度和準(zhǔn)確度。

利用斯派克直讀光譜儀測定錫錠雜質(zhì)元素的含量,具有制樣簡單、無環(huán)境污染、法快速準(zhǔn)確和檢出限低等特點(diǎn),為錫錠品號的鑒定提供強(qiáng)有力的技術(shù)把關(guān),具有良好的社會效益和經(jīng)濟(jì)效益。