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X射線熒光光譜儀對煉鋼用鋁線中鈦元素的應用方案
X射線熒光光譜儀對煉鋼用鋁線中鈦元素的應用方案

本文參照有關文獻用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus測定鋁錠中標準樣品,在線性范圍內分析結果準確、快速、穩(wěn)定性好。

http://m.xzc100.cn/Article/xsxyggpydl_1.html
XRF法應用:日本理學波長色散X射線熒光光譜對DD6單晶合金分析
XRF法應用:日本理學波長色散X射線熒光光譜對DD6單晶合金分析

DD6單晶合金是我國自主開發(fā)研制成功的第二代鎳基單晶高溫合金,具有鑄造工藝性能好、高溫強度高、組織穩(wěn)定及綜合性能好等優(yōu)點。本文我們使用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+根據(jù)DD6單晶合金元素進行檢測。

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加氫原料油氯元素測定:日本理學波長色散X射線熒光光譜儀應用
加氫原料油氯元素測定:日本理學波長色散X射線熒光光譜儀應用

原油中所含元素對石油煉制、加工和產品質量有很大影響,快速準確測定其含量具有重要意義。開發(fā)波長色散x射線熒光光譜儀測定蠟油中的微量氯元素,直接測定加氫原料油中的微量氯含量,操作簡單快速、結果準確。因此本文章對油品元素分析工作中樣品采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV進行檢測。

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試驗方案:X射線熒光光譜儀測定轉爐渣中主要化學成分
試驗方案:X射線熒光光譜儀測定轉爐渣中主要化學成分

試制新品種鋼、冶煉特殊鋼種、開發(fā)高端品種鋼時,我們可以通過測爐渣的成分和堿度來獲得更多準確可靠的數(shù)據(jù)。本次采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀可快速測定轉爐渣和精煉爐渣中的主要化學成分,通過繪制工作曲線,反應樣品成分分布狀況,作為質量控制的客觀依據(jù),指導煉鋼生產,不斷完善工藝參數(shù)。

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日本理學波長色散x射線熒光光譜儀對環(huán)境分析-石油分析應用事例
日本理學波長色散x射線熒光光譜儀對環(huán)境分析-石油分析應用事例

理學波長色散x射線熒光光譜儀環(huán)境分析應用事例-石油分析(質量控制)

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波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析
波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析

廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領域的金屬元素分析有著豐富的經驗及完整的配套方案,下面分享通過日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖,是由石英,斜長石,云母,角閃石等構成的礦物質。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅動裝置組合,對花崗巖進行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內置的CCD相機對直接觀察樣品表面,指定任意位置進行的元素分析。實驗操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀(日本理學)二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割,打磨

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業(yè)代理日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀,本次文章主要分享理學中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關閉ZSX應用軟件,關掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時,

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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹
ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀?,在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持,日本理學波長色散光譜儀應用非常的廣泛:電子和磁性材料、化學工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環(huán)境保護。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定操作實例
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定操作實例

多數(shù)操作人員對日本理學波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作,儀德公司分享采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例,方便廣大用戶進行學習,本方法來源于網(wǎng)絡數(shù)據(jù)供參考用,不做商業(yè)用。檢定項目操作實例以日本理學X射線熒光光譜儀為例,以表1為技術指標,進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續(xù)重復測量的相對標準偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設置條件,包括晶體、計數(shù)器、準直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉臺位置等。上式中:s——n次測量的標

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